Edmund多功能高倍率校准卡
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多功能高倍率校准卡Ø用来测试校准，适用于显微镜和机器视觉系统Ø包括蚀刻线（郎奇制作法）同心圆，正方形栅格，以及直线微尺Ø有两种测试卡选，分别用在不同的倍率Ø附带NIST认证这种“集多功能于一身”的校准卡可用来校准显微镜和机器视觉系统的参数，而
多功能高倍率校准卡
Ø用来测试校准，适用于显微镜和机器视觉系统
Ø包括蚀刻线（郎奇制作法）同心圆，正方形栅格，以及直线微尺
Ø有两种测试卡选，分别用在不同的倍率
Ø附带NIST认证
这种“集多功能于一身”的校准卡可用来校准显微镜和机器视觉系统的参数，而不需分别校正。本卡可用来测试和校准Mitutoyo物镜，Zeiss物镜，以及高倍视频镜头的分辨率，畸变，以及景深(DOF)等等。测试卡中包括各种频率的蚀刻线，一组栅格和同心圆，一组微刻尺，以及边缘撑块来支撑 测量景深的卡。带使用信息卡， 一盘CD（操作说明），以及NIST认证说明。
低频测试板用在倍率为4X到20X的物镜，适合用在机器视觉系统上的低倍长焦系统
高频测试板用在倍率为20X到100X的物镜，可用在显微镜和其它高倍短焦系统。
通用规格
基底: | Fused Silica |
平行度（弧分）: | 1.00 |
涂层: | Evaporated Chrome Pattern |
尺寸（英寸）: | 1 x 3 |
整体精度 (μm): | ±1.0 |
表面平整度: | 3 - 4λ |
订购信息：
标题 | 产品号 |
4x 到 20x 多功能目标板 | #56-076 |
20x 到 100x 多功能目标板 | #56-077 |
技术数据
4X - 20X Target Specifications - Concentric Circles | ||
Outer Diameter (mm) | Line Spacing (mm) | Line Width (μm) |
5.0 | 0.25 | 20 |
4.0 | 0.25 | 15 |
3.0 | 0.25 | 10 |
2.0 | 0.10 | 7.5 |
1.0 | 0.10 | 5 |
4X - 20X Target Specifications - Grids | ||
Width (mm) | Line Spacing (mm) | Line Width (μm) |
4.5 | 0.25 | 20 |
4.5 | 0.25 | 15 |
4.5 | 0.25 | 10 |
4.5 | 0.10 | 15 |
4.5 | 0.10 | 10 |
4.5 | 0.10 | 5 |
2.55 | 0.075 | 10 |
2.55 | 0.075 | 5 |
2.55 | 0.050 | 5 |
2.55 | 0.050 | 2.5 |
4X - 20X Target Specifications - Ronchi Rulings | |
Range (lp/mm) | Frequency Change (lp/mm) |
60 - 380 | 20 |
4X - 20X Target Specifications - Linear Microscale | ||
Length (mm) | Divisions/mm | Microns/divisions |
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