EdmundUSAF透射光路测试板
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USAF透射光路测试板可测量X射线，紫外光，近红外以及远红外成像系统的分辨率安装方便可用在透射场合透射光路测试板是采用电铸工艺制作在很薄的镍片上去除掉多余材料。由于在图案区域没有光学材料，光线通过空气传播，这样就去除了色差和吸收问题，本测试板
耗材描述
USAF透射光路测试板
可测量X射线，紫外光，近红外以及远红外成像系统的分辨率
安装方便
可用在透射场合
透射光路测试板是采用电铸工艺制作在很薄的镍片上去除掉多余材料。由于在图案区域没有光学材料，光线通过空气传播，这样就去除了色差和吸收问题，本测试板图案函盖了0组图，1组元到3组图，6组元。使用者手册里详细概括了各组图和组元的位置。UV熔融石英荧光测试卡（上方）可用在NUV场合，而透射光路测试板可用在远紫外以及远红外的场合。这种电铸模式的标板装在两个圆板之间，可以安装到我们的标准光学装置#64565上。
标题 | 产品编码 |
直径38mm USAF透射光路测试板 | #58-402 |
技术信息 | ||||
Element | Group No. | |||
0 | 1 | 2 | 3 | |
1 | 1.00 | 2.00 | 4.00 | 8.00 |
2 | 1.12 | 2.24 | 4.49 | 8.98 |
3 | 1.26 | 2.52 | 5.04 | 10.10 |
4 | 1.41 | 2.83 | 5.66 | 11.30 |
5 | 1.59 | 3.17 | 6.35 | 12.70 |
6 | 1.78 | 3.56 | 7.13 | 14.30 |
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