适用于纸张、晶片、薄片等样品分析，直接烧蚀进样不需破坏样

品。应用于司法鉴定、考古学、半导体材料分析等领率。

• 样品厚度<0.8mm

• 金属薄板、半导体晶片

• 纸、纸币、证券、合同、艺术品等

• 快速安装<5分钟

P/N 0020-8659-1（UP193FX,UP213, UP266）

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注：该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案，不可用于临床诊断或治疗等相关用途