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上海卓伦微纳米设备有限公司

公司简介
  上海卓伦微纳米设备有限公司成立于2001年8月,总部位于上海。是一家专业从事纳米定位技术的高科技公司。 
  扫描探针显微镜项目是第一战略阶段卓伦公司的核心产品,公司前期投入了大量的人力和资金专注于该产品体系的研发。2003年,第三代通用平台体系结构的MicroNano® 扫描探针显微镜产品系列面世之后,卓伦公司倡导和创新的SPM通用开放平台结构、模块化可升级体系、双16位AD/DA技术、多通道可扩展结构因其先进性和远见性逐步成为国内SPM行业追随的技术发展方向,成为领跑者。卓伦公司自2004年以来先后创新的单一多量程自适应扫描器不更换技术、纳米级电控样品移动定位平台、智能针尖自识别技术、用户级可开发通用平台技术、200毫米大样品台工业级SPM等因其在全球范围内的先进性和独创性使中国人自主研制的SPM仪器得到了全球同行的关注和尊重。 
  公司进入第二战略阶段后,研发重心已经逐步转移到以纳米定位技术(NanoPosition™ Technology)为核心的应用技术的开发,这些技术分别涉及到光纤通讯、超高精度加工、集成电路大样品检测、高精密电子元件生产流程测控、纳米光学系统、超高分辨CCD等各个行业,以完全的创新思路开辟空白市场,对这些项目,公司将采取与SPM项目完全不同的商业运营模式,实现第二阶段卓伦的腾飞! 
  卓伦的目标:提供更好的纳米定位技术解决方案、产品和服务,成为世界一流的、卓越的、伟大的企业。 
    卓伦的使命:通过我们坚持不懈的奋斗,在纳米定位技术领域创造出非凡的成就,使中国在纳米技术时代屹立于世界科技强国之林,是每一位卓伦人的责任和使命。 
    卓伦的精神:团结合作、创新超越、求实进取。 
    卓伦的道德标准:诚信、正气、奉献、清廉。 
  
        专注、执著、精益求精,我们相信态度决定一切 
                   
                 用激情和创新的力量精心打造国产高端仪器 
卓伦发展历程:
1990年 -- 中科院原子核研究所STM项目组
1998年 -- 成立 上海纳星科技发展有限公司
2000年 -- 成立 上海广电信息股份有限公司 对外技术合作公司 纳米技术事部
2001年 -- 与上广电对外技术合作公司共同成立卓伦微纳米公司,原纳星公司法人代表任总经理兼总工
2006年底以来,卓伦公司提出二次创业,扩大经营规模,公司加强员工队伍训练和干部培养,形成了一个成熟而坚强的管理团队。公司着眼于长期发展,重视企业文化建设和管理控制,努力建成一个高效、完整、成熟的运营体系。
    
卓伦技术创新历程
2001年10月,卓伦率先提出SPM仪器开放、通用、模块化兼容的研发思路,SPM通用平台技术的研究得到上海科委纳米基金立项资助,2002年该项目通过专家鉴定。现在,该思路的先进性和远见性逐步被业内其他厂商接受,纷纷加入使SPM开放、兼容的研发行列。
2002年6月,卓伦首先提出双12位AD/DA差分同步独立高压放大技术,该技术的创新使得SPM核心分辨率指标有了很大突破,同时又兼顾了执行速度,2004年2月,产品全面升级到双16位。该技术目前已被国内多家厂商引进。
2003年10月,卓伦推出第3代MicroNano®扫描探针显微镜产品系列,该系列产品拥有多项专利,在当时有智能针尖自识别技术、用户级可开发通用平台技术等多达12条优于同业产品的独特优势,在市场上获得巨大成功。
2004年2月,卓伦将多通道同步采集技术应用到SPM系列产品中,实现了16个数据采集通道中任意4通道可进行完全同步采集,同时在4窗口对比成像功能,使实验数据不会因为采样时间先后和外部环境的改变形成误差。该技术在2005年后逐步被国内多家厂商引进,但在“同步”技术上与我们的设计仍存差距。
2004年10月,卓伦实现了SPM行业重大创新技术--- 单一多量程自适应扫描器不更换技术和电控样品移动定位平台,有效解决了一直以来科研型SPM既要能大范围扫描,同时又要保证高精度成像的矛盾,并且能够在5毫米见方的范围内实现纳米级的样品移动和重复定位。该技术的发明使国产SPM仪器得到了世界同行的侧目和赞赏。
2004年12月,卓伦率先研制出与同类进口仪器核心指标一致的磁力、静电力显微镜。
2005年4月,卓伦研制成功8英寸大样品台工业级扫描探针显微镜,代表了国产SPM行业内最高综合技术开发水平,至今仍属国内第一。
2007年11月,卓伦公司将推出真正意义上可标准化全开放、用户级可二次开发、功能强大的通用SPM系统。为SPM“装上翅膀”,为中国纳米科技的长足发展提供“利器”!
2008年8月,第四代NanoPosition D10A 型扫描探针显微镜第二阶段技术研发任务正式启动,欲实现更高速扫描(扫描频率:0.1~1028Hz)、更大范围高精度定位(移动范围:50mm×50mm、定位精度:10um、1um、100nm、10nm)、更大样品台(直径≤Φ200mm,厚度≤60mm)等技术。