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Edmund测试和探测用品介绍

发布时间: 2024-01-02 11:27:59 来源:韵翔光电
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ALPAO可变形模态反射镜

  • 提供常见光学像差的校正

  • 8个控制通道对应Zernike模式

  • 简单易用的基于Web浏览器的软件


产品介绍


ALPAO可变形模态反射镜旨在无需通过逐个控制每个致动器来简单校正常见的光学像差。其中的8个预编程通道与不同的Zernike模式相关联,可用于快速切换各种像差校正,如离焦、散光、彗差和球差。配备的易于使用的软件可通过Web浏览器独立使用,也可用任何编程语言进行编程,并提供对可变形反射镜的直观监控和控制。ALPAO可变形模态反射镜的紧凑外壳、低电压操作和低功耗使其易于集成到新的或现有系统中。这些反射镜非常适用于自适应光学的各种应用,如光学相干断层扫描(OCT)、3D成像、眼科学和激光脉冲整形。

备注:客户需要提供自己的波前传感器以创建自适应光学系统。了解有关自适应光学的更多信息 这里。


产品信息


IRIS™高功率激光探测棒

  • 1460–1600nm波长范围

  • 轻巧便携

  • 无需手持便携的挂绳夹


产品介绍



IRIS™高功率激光探测棒是一种激光探测棒,设计用于探测电信数据中心常用的高功率红外(IR)激光。该探测棒采用红外智能闪烁体设计,可从1460至1600nm的激光输入中发出荧光,而不会因低功率激光而产生假阳性。这些探测棒采用玻璃活动区域和耐用的丙烯酸结构,重量轻,便于携带,坚固耐用,适合室内或室外使用。IRIS™高功率激光探测棒是一种无源设备,无需外部电源,具有35mm方形抗反射涂层有源区域、哑光黑色表面和挂绳。这些探测棒是电信和光纤工作的理想选择,需要对高功率红外激光器进行验证和测试。


产品信息


NIREOS SPIDER高动态范围VIS-SWIR光电探测器

  • 用于320–1700nm波长范围的双色Si-InGaAs芯片

  • 嵌入式24位模数转换器

  • 数字USB连接和两个模拟BNC连接


产品介绍


Nireos Spider高动态范围VIS-SWIR光电探测器是一款宽带、放大的Si-InGaAs光电探测器,支持模拟或数字连接,可快速开发适用于工业、实验室和研究环境的高性能传感和光谱解决方案。该光电探测器采用双色Si和InGaAs芯片,可实现简单的光束对准,并实现320-1700nm的宽光谱响应。利用嵌入式24位模数转换器(ADC),Si和InGaAs模拟输出可通过USB连接以0.5至120ksps的可调采样率同时数字化。Nireos Spider高动态范围VIS-SWIR光电探测器的Si和InGaAs通道均独立放大,模拟带宽高达56kHz,灵敏度为皮瓦,8个可切换跨阻增益选项范围为1.5kΩ至4.4mΩ。这款光电探测器配有用户友好的即插即用软件,便于安装,并具有允许使用基于.NET的语言(如C++、C#、LabVIEW、Python和MATLAB)进行编程的DLL。


产品信息


超紧凑的机器视觉解决方案

  • 套件包括相机、成像镜头、光源和配件

  • 高分辨率和较好的图像质量

  • 非常适合 OCR 和亚光物体检测应用


产品介绍




超紧凑的机器视觉解决方案是专为便于装配和集成到机器视觉应用和系统而设计的套件,外形小巧,尺寸为80.5 x 75毫米(3.17 x 2.95 英寸)。附带的TECHSPEC®超紧凑定焦镜头可在200毫米至无限远的工作距离范围内提供高分辨率和较好的图像质量,从而实现多功能空间定位。与附带的Allied Vision Alvium 1800 U-500m USB 3.1 相机和附带的Advanced Illumination 高强度环形灯搭配使用,该解决方案采用2.2μm 背光像素,100毫米处的光强为37W/m2可提供约227lp/mm的高奈奎斯特。超紧凑的机器视觉解决方案是各种机器视觉应用和工厂自动化应用(如光学字符识别(OCR)及哑光金属物体表面检测)的理想之选。此外,这种一体化硬件解决方案价格相对低廉,不仅适用于工业环境,也可以在实验室和大学等非工业环境下使用,是经济实惠的机器视觉系统选择。

请注意:该解决方案采用Allied Vision相机,使用Allied Vision 的VIMBA软件(可在此处下载)进行控制。其他用于安装的光机械可选配件可前往 此处查看和挑选。


产品信息


Arizona Optical Metrology (AOM)柱面计算机生成全息图(CGH)

  • 测量凹面和凸面圆柱形透镜的面形误差

  • 可提供多种圆柱形 f/#s

  • 易于安装和对齐


通用规格




产品介绍


Arizona Optical Metrology(AOM)公司的柱面计算机全息图(CGH)扩展了干涉仪的功能,可检测圆柱形光学器件,实现快速、全孔径和高分辨率的面形误差计量。提供完整系列的圆柱形CGH f/#,可测试一系列凸面和凹面圆柱形光学表面,减少计量实验室所需的测试板或干涉测量基准面的数量。AOM 2 英寸柱面CGH安装在机械框架中,可运动地安装到所需的六自由度运动平台,以便将CGH与干涉仪精确对准。Arizona Optical Metrology (AOM) 公司的柱面计算机生成全息图(CGH)经过优化,可与行业标准的4 英寸孔径、632.8nm HeNe 激光波长干涉仪和参考透射平面配合使用。每个柱面空心CGH都附有合格证,上面标明了测试的性能指标。

请注意:这些计算全息图(CGH)需要使用6 自由度精细定位平台(#25-684或带Z 轴的6自由度精细定位平台)#25-685)。CGH单元通过磁力与平台运动连接,实现快速、可重复的定位。

AOM的计算机全息图(CGH)可对柱面光学器件进行干涉测量。使用CGH可以测量凸面和凹面圆柱形光学器件在全孔径范围内的面形误差。圆柱曲率半径也可以用半径干涉仪台进行测量。/p>

AOM标准柱面CGH包括一个带有圆柱形空心图案、逆向对准图案、后表面镀有增透镀膜的熔融石英基片以及一个带有1/4"不锈钢安装球的机械单元,用于连接AOM FP3 对准平台。

柱面CGH是一种衍射光学元件,可将准直干涉仪波前转换成会聚圆柱波前。凹面和凸面柱面光学器件可在共焦无效测试中使用相同的CGH进行测量。凸柱面光学元件应置于会聚波前,凹柱面光学镜组应置于发散波前。


产品信息




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