BLUE-Wave-UVN微型光纤光谱仪产品介绍:
BLUE-Wave-UVN是美国StellarNet推出的紫外-可见光-近红外一体式微型光纤光谱仪,覆盖200–1150nm超宽连续波段,单台设备即可完成紫外、可见光、近红外全区间光谱采集,兼顾便携体积与实验室级检测精度,是实验室分析、工业在线监测、户外现场检测、设备OEM集成的通用型光谱检测核心设备。
整机采用无活动光路模块化金属机身,抗震稳定、体积小巧,USB直连供电无需外置电源,搭配原厂免费SpectraWiz专业光谱分析软件,一站式实现透射、吸收、反射、荧光、辐照度、颜色、浓度等多维度光谱量化检测。
核心光学与硬件参数:标准波长覆盖200–1150nm,完整覆盖深紫外至近红外区间,满足全波段光谱检测需求。设备标配600线/mm全息光栅,杂散光抑制优异,杂散光<0.1%@435nm,弱紫外信号抗干扰能力强。可适配14/25/50/100/200μm多规格狭缝,对应光学分辨率0.8–6nm,可按需平衡检测灵敏度与精度。设备搭载2048像素CCD探测器,16位高速模数转换,信噪比1000:1,动态范围2000:1,曝光时间1ms–8min,微弱紫外荧光、弱反射光均可稳定捕捉。整机尺寸为25×75×125mm,重量仅397g,可适配桌面实验、产线作业、野外便携检测等多种场景。采用USB2.0直供电,功耗<100mA,支持WiFi、RS232、数字IO、以太网拓展,最多可接入8台设备菊花链同步采集多通道数据。标配SMA905光纤接口,兼容各类透射池、积分球、反射探头、辐照度余弦接收器等主流采样配件。BLUE-Wave-UVN光谱仪可单设备覆盖UV-VIS-NIR全波段检测,无需多台光谱仪拼接,一台设备即可完成紫外消毒检测、可见光色彩分析、近红外物质成分鉴别,有效降低设备采购成本,减少设备占用空间与配套耗材投入。设备采用一体化全金属壳体设计,光路无运动元件,抗震性能优异,波长温漂<0.001nm/℃,温度稳定性极强,无论是实验室台面检测、工业产线在线监测,还是户外野外光谱采样、车载移动检测,都能保持稳定精准的检测效果。
设备整体低功耗、易集成,依托USB免驱直供供电,规避了外接电源繁琐布线的问题。原厂开放完整SDK开发包,支持PLC、上位机、嵌入式设备二次开发,可灵活适配LED产线、薄膜检测、水质在线监测等各类自动化产线与OEM批量配套场景。软件方面标配免费SpectraWiz专业分析软件,内置吸光度、透射率、反射率、色坐标、光谱辐照度、峰值拟合、时间序列监测、浓度标定等全套核心算法,支持实时光谱曲线可视化、数据导出与检测报告自动生成,无需额外付费采购配套软件。产品应用场景广泛,可用于光学镀膜、玻璃、滤光片的透射与反射光谱检测及薄膜厚度反演等材料薄膜检测领域;适配紫外固化灯、各类照明光源的光谱辐照度、色温和显色指数CRI测试;可实现水体有机物紫外吸收检测、水质污染物快速定量分析等环境水质监测工作;同时可满足液体荧光光谱、试剂吸光度滴定、生物样本光谱表征等荧光与生化分析需求,也可应用于食品、化工原料近红外成分检测,以及太阳光辐照、环境紫外监测、植被光谱采集等户外光谱测量场景。
BLUE-Wave-UVN微型光纤光谱仪技术规格 :
光学分辨率: | 见下表
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探测器类型: | CMOS/CCD或PDA,2k/3k像素 |
探测器范围: | 250-1100nm |
像素尺寸: | 14 x 200 微米(CMOS/CCD)或 7 x 200 微米(PDA) |
衍射光栅: | 全息光栅、刻线光栅 |
光栅刻线密度 g/mm: | 300, 600,1200,1800, 2400 |
分光光路: | f/4,SymX-切尔尼–特纳 |
排序筛选器: | 综合与高通 |
信噪比: | 1000:1 |
数字化器: | 16位 |
动态范围: | 2000年:1号,涵盖6个数量级 |
尺寸: | 1x3x5 |
重量: | 14盎司 |
功耗: | < 通过USB端口输出100 mA |
界面选项: | USB2或WiFi(2个)、RS232(3个)、SPI3、4-20mA(3个)、数字I/O(3个)或以太网(3个) |
数据传输速度: | 30Hz 或 1000Hz(1) |
开缝尺寸选项: | 14,25,50,100,200um |
杂散光指标: | 435nm处<0.1%;600nm波段<0.05% |
光纤输入: | SMA-905 0.22纳单光纤 |
操作系统: | Windows和Linux(2),Andriod(2),iOS(2) |
软件包括: | SpectraWiz 程序,WinSDK (C,C#,VB,Delphi),Customizable LabVIEW,VBA for Excel(CRI & LED Report) |
标准型号 2048 像素 CCD/PDA 探测器 狭缝类型决定分辨率
型号 | 波长范围(nm) | 光栅g/mm | Slit-200nm res. | Slit-100nm res. | Slit-50nm res. | Slit-25nm res. | Slit-14nm res. |
UV | 200-600 | 1200 | 3.0 | 1.6 | 0.8 | 0.50 | 0.40 |
UV2 | 200-400 | 2400 | 1.5 | 0.8 | 0.4 | 0.25 | 0.20 |
UV3 | 220-350 | 3600 | 1.0 | 0.5 | 0.25 | 0.16 | 0.13 |
UVIS | 300-1100 | 600 | 6.0 | 3.2 | 1.6 | 1.00 | 0.80 |
VIS | 350-1150 | 600 | 6.0 | 3.2 | 1.6 | 1.00 | 0.80 |
VIS2 | 380-780 | 1200 | 3.0 | 1.6 | 0.8 | 0.50 | 0.40 |
NIR | 500-1150 | 600 | 6.0 | 3.2 | 1.6 | 1.00 | 0.80 |
NIR2 | 600-1000 | 1200 | 3.0 | 1.6 | 0.8 | 0.50 | 0.40 |
NIR2b | 785-1150 | 1200 | 3.0 | 1.6 | 0.8 | 0.50 | 0.40 |
NIR3 | 550-840 | 1800 | 2.2 | 1.2 | 0.6 | 0.35 | 0.28 |
NIR3b | 680-935 | 1800 | 2.2 | 1.2 | 0.6 | 0.35 | 0.28 |
NIR4 | 500-700 | 2400 | 1.5 | 0.8 | 0.4 | 0.25 | 0.20 |
NIR4b | 600-800 | 2400 | 1.5 | 0.8 | 0.4 | 0.25 | 0.20 |
UVN | 250-1100 | 600 | 6.0 | 3.2 | 1.6 | 1.00 | 0.80 |
UVNb | 200-1050 | 600 | 6.0 | 3.2 | 1.6 | 1.00 | 0.80 |