塑料PC PEEK PCTFE PTFE高光谱分析

塑料PC PEEK PCTFE PTFE高光谱分析

一、检测目的和依据

1、使用 900-1700nm 相机采集塑料PC PEEK PCTFE PTFE的光谱数据；

2、高光谱无损识别获取塑料PC PEEK PCTFE PTFE光谱曲线；

3、使用机器学习、深度学习等技术，对塑料PC PEEK PCTFE PTFE光谱数据进行训练拟合，实现通过高光谱技术无损识别塑料PC PEEK PCTFE PTFE材料成分技术实验与落地。

二、样品类别及数量

样本：测试实验客户来样样品 数量4片

三、检测设备和方式

检测设备

1、900-1700nm高光谱相机

2、光学暗箱（含350-2500nm光源，放样移动平台）

3、 黑色托盘（低反射率背景）

4、辅助材料：标签（用于标记塑料PC PEEK PCTFE PTFE样品编号，方便对塑料PC PEEK PCTFE PTFE光谱数据对应）

采集方式

1、样品摆放规则：将塑料PC PEEK PCTFE PTFE样品按如图所示摆放

2、数据采集模式：使用反射模式采集塑料PC PEEK PCTFE PTFE样品900-1700nm反射率数据。

3、设备调参：

• 调节相机高度，使相机视场可以覆盖所有样品

• 调节镜头光圈到最大：F1.4

• 调节镜头焦距，使样品图像最清晰

• 曝光时间调整到合适的值，避免采集到的样品数据过曝

四、采集结果

1、数据提供

提供数据格式，每个样品数据包含如下6个格式文件：

a、样本900-1700nm原始数据（包含 .dat、.hdr格式）

b、样本900-1700nm反射率数据（包含 .dat、.hdr格式）

c、样本900-1700nm高光谱图像（.png格式）

d、提供样品摆放实拍图（.jpg格式）

2、数据展示

采集参考Q/EX C 0628-2025标准