XRF（X射线荧光光谱分析）法测硫固体标准品
Monitor Samples for XRF-Silicate Glasses. Optically polished on the analytical surface; sizes 30-40mm in
diameter and 5mm in height.
用于XRF法检测标准，一般使用的固体标准品需要光学抛光，尺寸宽度在30-40mm，高度5mm。根据含硫量不同，一般分为高硫、低硫、中硫三种检测标准。
详细如下：
1、High level of Sulfur approx. 0.70wt%   货号：SGL-Hl
2、Low level of Sulfur approx. 0.005wt%   货号：SGL-LO
3、Mid level of Sulfur approx. 0.050wt%   货号：SGL-MD

XRF法测低硫固体标准品信息由北京美同达科技有限公司为您提供，如您想了解更多关于XRF法测低硫固体标准品报价、型号、参数等信息，欢迎来电或留言咨询。

注：该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案，不可用于临床诊断或治疗等相关用途